Инструменты для НаноТехнологий
 
 
 

Оборудование для наноисследований

    Приборы электронной  микроскопии
    Приборы рентгеновской микроскопии
    Сканирующая зондовая микроскопия
    Аналитическое оборудование для микро и наноисследований
    Учебно-лабораторное оборудование
    Аксессуары TEM, SEM, STM, X-Ray

Производители нанооборудования

NT-MDT
 

Нанотехнологические комплексы

Зондовые нанолаборатории

Сканирующие зондовые микроскопы

Аксессуары СЗМ

    Tescan
    FEI Company
    ИРО
 

Контактная информация

    О компании
    Заказ оборудования
    Наш адрес
 

СЗМ принцип: Контактный Метод Рассогласования
MDT-файл: pzt_thin_film.mdt (1.00 Mb)
Размер: 6x6 um

Изображение рельефа поверхности сегнетоэлектрика PZT тонкой пленки изготовленной при помощи золь-гелевой технологии и кристаллизованной из аморфному состоянию процедурой быстрого, термического отжига. Видно совместное сосуществование обычных частиц и частиц розеточного типа. Левое и правое изображения-рельефa и отклонения сигнала соответственно, получено при помощи контактного метода АСМ.

Изображение были получены Дмитрием Козодаевым, NT-MDT.
Образец предоставлен Владимиром Шуром, Лаборатория Сканирующей Зондовой Микроскопии, Уральский Государственный Университет, Екатеринбург, Россия (labfer.usu.ru).

<<<Назад
 

Галерея сканов
компании NT-MDT

PZT тонкая пленка

АСМ анодно окислительная литография

Тонкая пленка титана

Полимеры с внедренными наночастицами

 
 

ЗАКАЗ ОБОРУДОВАНИЯ НАШ АДРЕС
 
 
Copyright © 2008 Nanolabs Ltd

Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40, тел./факс 8 (727) 250-90-06 (многоканальный), E-mail: nanolabs@narod.ru

 
 
Сайт создан в системе uCoz