Инструменты для НаноТехнологий
 
 
 

Оборудование для наноисследований

    Приборы электронной  микроскопии
    Приборы рентгеновской микроскопии
    Сканирующая зондовая микроскопия
    Аналитическое оборудование для микро и наноисследований
    Учебно-лабораторное оборудование
    Аксессуары TEM, SEM, STM, X-Ray

Производители нанооборудования

NT-MDT
 

Нанотехнологические комплексы

Зондовые нанолаборатории

Сканирующие зондовые микроскопы

Аксессуары СЗМ

    Tescan
    FEI Company
    ИРО
 

Контактная информация

    О компании
    Заказ оборудования
    Наш адрес
    Ссылки
 

ЗОНДОВЫЕ НАНОЛАБОРАТОРИИ

Зондовая Нанолаборатория на платформе ИНТЕГРА

image4214_w120 Сканирующая Зондовая Микроскопия предоставляет возможность исследовать пространственные, физические и химические свойства объектов с характерными размерами меньше нескольких нанометров. Благодаря своей многофункциональности, простоте и доступности, сегодня Атомно-Силовой Микроскоп (АСМ) стал едва ли не самым распространенным «инструментом нанотехнологий». Платформа ИНТЕГРАспециально разработана как основа для развития возможностей Сканирующей Зондовой Микроскопии и объединение их с другими современными методами исследований. Объединение АСМ с другими методами дало возможность, например, преодолеть принципиальные ограничения оптики, с возможностью проводить спектральные исследования (включая определение химического состава) с разрешением, превосходящим лучшие оптические методы. Модельный ряд включает приборы для проведения зондово-микроскопических исследований в обычных и в специальных условиях - в вакууме, при высокой и низкой температуре, в жидкостях и т.д. Вместе с тем, благодаря проведению разработки Зондовой НаноЛаборатории на основе концепции единой платформы ИНТЕГРА, даже при наличии одного специализированного СЗМ комплекса на его основе может быть сформирована полноценная многофункциональная исследовательская лаборатория.

ИНТЕГРА Прима

 
image3012_w120

Базовая модель. Предоставляя возможности для изучения физических свойств поверхности с использованием практически любых применяемых сегодня методов Сканирующей Зондовой Микроскопии на атомно-молекулярном уровне, одновременно является основой для формирования других, более специализированных комплексов.

ИНТЕГРА Аура

 
image4277_w80

СЗМ для работы в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Специализация – измерение слабых сил (электрических, магнитных, адгезионных и т.п.). 

ИНТЕГРА Терма  
image4094_w95

СЗМ с беспрецедентно низким уровнем температурных дрейфов (менее 10 нм/оС). Позволяет на сверхмалых полях (<100нм) проводить прецизионные манипуляции и осуществлять долговременные измерения единичных нанообъектов. Обеспечивает уникально высокую стабильность при измерениях в условиях меняющейся температуры.Наличие Макроязыка Nova PowerScript для автоматизированного управления комплексом позволяет проводить уникальные эксперименты.

ИНТЕГРА Соларис  
image3014_w120
Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (СБОМ). Специализация – исследование оптических свойств за пределом дифракции видимого света (разрешение до 30 нм).
 
image4281_w120

Интеграция СЗМ с конфокальной микроскопией/спектроскопией комбинационного рассеяния (КР). Благодаря эффекту гигантского усиления КР позволяет проводить КР спектроскопию и получать изображения с разрешением в плоскости до 50 нм.

ИНТЕГРА Вита  
image3952_w105
Интеграция СЗМ с дальнепольным оптическим (инвертированным) микроскопом. Специализация – исследования объектов молекулярной и клеточной биологии в условиях близких к физиологическим.
ИНТЕГРА Томо  
image4139_w114

Интеграция СЗМ и ультрамикротома. Позволяет получать послойные изображения образца и реконструировать трехмерную модель наноразмерных включений. Может дополнять данные ПЭМ, полученные на срезах того же образца.

 
image4107_w95

СЗМ для исследования больших (до 100 мм) образцов. Позволяет проводить серийные измерения в полуавтоматическом режиме.

 

Галерея сканов
компании NT-MDT
Атомарное разрешение на слюде

Атомные ступеньки на ВОПГ

Нанотрубки

SnO2
Углеродные нанотрубки
Оптические решетки

Спиральная ступень на поверхности Si(111)

Фуллерид SnxC60
 
 

ЗАКАЗ ОБОРУДОВАНИЯ НАШ АДРЕС
 
 
Copyright © 2008-2010 Nanolabs Ltd

Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40,
тел./факс 8 (727) 250-90-06 (многоканальный), E-mail: nanolabs@narod.ru

 
 
Сайт создан в системе uCoz