Инструменты для НаноТехнологий
 
 
 

Оборудование для наноисследований

    Приборы электронной  микроскопии
    Приборы рентгеновской микроскопии
    Сканирующая зондовая микроскопия
    Аналитическое оборудование для микро и наноисследований
    Учебно-лабораторное оборудование
    Аксессуары TEM, SEM, STM, X-Ray

Производители нанооборудования

NT-MDT
 

Нанотехнологические комплексы

Зондовые нанолаборатории

Сканирующие зондовые микроскопы

Аксессуары СЗМ

    Tescan
    FEI Company
    ИРО
 

Контактная информация

    О компании
    Заказ оборудования
    Наш адрес
    Ссылки
 

SnO2

СЗМ принцип: Метод постоянной силы
Размер: 3x3 µm

ССМ изображение массива ячеек SnO2.

Изображение предоставлено A.Беляевым, Государственный Институт Физических Проблем и НТ-МДТ, Москва, Россия.
<<<Назад
 

Галерея сканов
компании NT-MDT
Атомарное разрешение на слюде

Атомные ступеньки на ВОПГ

Нанотрубки

SnO2
Углеродные нанотрубки
Оптические решетки

Спиральная ступень на поверхности Si(111)

 
 

ЗАКАЗ ОБОРУДОВАНИЯ НАШ АДРЕС
 
 
Copyright © 2008-2010 Nanolabs Ltd

Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40,
тел./факс 8 (727) 250-90-06 (многоканальный), E-mail: nanolabs@narod.ru

 
 
Сайт создан в системе uCoz