СКАНИРУЮЩИЕ  ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ

Серия предлагает два сканирующих электронных микроскопа (SEM и FEG SEM) обеспечивающие отображение с высокой разрешающей способностью, которое требуется для сегодняшних передовых исследований и промышленного применения, особенно полезны для исследования характеристик непроводящих и тяжело загрязненных материалов.
Модель Inspect F , при наличии дополнительных опций, допускает работу в режиме STEM (сканирующая просвечивающая электронная микроскопия) с разрешением 0,8 nm.

Подробнее Inspect S >>>
Подробнее Inspect F >>>

Сканирующие электронные микроскопы с несколькими моделями (SEM и FEG SEM) для структурного анализа образцов любого типа и размера. Модели серии Quanta позволяют получать весь спектр данных об образцах в трех вакуумных режимах - высоковакуумном, низковакуумном и режиме естественной среды (ESEM). Возможность работы в режиме ESEM – отличительная особенность серии Quanta. Эта возможность особенно важна при изучении биологических объектов. Все растровые электронные микроскопы этой серии могут быть оборудованы различными детекторами и аналитическими системами, такими как детекторами обратно рассеянных электронов для работы в разных режимах, STEM детекторами, системами энергодисперсионного и волнового рентгеновского микроанализа (EDX, WDX), детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для анализа структуры и текстуры кристаллических материалов.

Подробнее Quanta 200>>>
Подробнее Quanta 600 FEG>>>

Настольный SEM микроскоп с высокой разрешающей способностью, высококачественной оптической камерой и отличным контрастом изображений, который обеспечивает усиление до 20 000 менее чем 30 секунд. PHENOM предоставляет пользователю прекрасные интерактивные и динамичные возможности, что делает прибор привлекательным для целей обучения и способствует развитию у обучающихся исследовательских методов, стимулирует активное обучение и развитие навыков научного познания.

Подробнее >>>