СКАНИРУЮЩИЕ (РАСТРОВЫЕ) ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ

LYRA XMH
Стандартная система с электронным и сфокусированным ионным пучками (FIB SEM), функционирует с высоким вакуумом в камере для образцов, для испытания и исследования проводящих или непроводящих образцов.

LYRA XMU
Модель с переменным изменением давления, дополняющая все преимущества вакуумной модели, позволяя проводить исследование непроводящих образцов в их естественном состоянии при низком вакууме.

Серия MIRA

MIRA LMH
Растровый электронный микроскоп (FE SEM) с высокой яркостью излучателя Шоттки при большой камере и моторизованном манипуляторе, функционирующая в высоком вакууме для исследования проводящих образцов с экстраординарным качеством отображения.

MIRA LMU
Модель с переменным изменением давления, дополняющая все преимущества вакуумной модели, позволяя проводить исследование непроводящих экземпляров в их естественном состоянии при низком вакууме.

Подробнее >>>

MIRA XMH
Растровый электронный микроскоп (FE SEM) с высокой яркостью излучателя Шоттки при большой камере и компьютизированном манипуляторе, функционирующая в высоком вакууме для исследования проводящих образцов с экстраординарным качеством отображения.

MIRA XMU
Модель с переменным изменением давления, дополняющая все преимущества вакуумной модели, позволяя проводить исследование непроводящих экземпляров в их естественном состоянии при низком вакууме.

Подробнее >>>

VEGA LMH
Аналитический сканирующий электронный микроскоп (SEM) с большой камерой и расширенными функциями моторизованного манипулятора, работающий в высоком вакууме и предназначенный для широкого диапазона технических приложений при исследованиях проводящих материалов.

VEGA LMU
Модель с переменным изменением давления, дополняющая все преимущества вакуумной модели, позволяя проводить исследование непроводящих экземпляров в их естественном состоянии с расширенными возможностями при низком вакууме.

Подробнее >>>

VEGA LSH
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) с большой камерой и расширенными функциями моторизованного манипулятора, с быстрым и простым получением чистого высокого вакуума в камере и предназначенный для широкого диапазона технических приложений при исследованиях проводящих материалов.

VEGA LSU
Модель с переменным изменением давления, дополняющая все преимущества вакуумной модели, позволяя проводить исследование непроводящих экземпляров в их естественном состоянии с расширенными возможностями при низком вакууме.

Подробнее >>>

VEGA SBH
Аналитический сканирующий электронный микроскоп (SEM) с маленькой камерой и ручным управлением манипулятора, с быстрым и простым получением чистого высокого вакуума в камере и предназначенный для приложений при исследованиях небольших образцов.

VEGA SBU
Модель с переменным изменением давления, дополняющая все преимущества вакуумной модели, позволяя проводить исследование непроводящих экземпляров в их естественном состоянии с расширенными возможностями при низком вакууме.

Подробнее >>>

VEGA XMH
Аналитический сканирующий электронный микроскоп (SEM) с дополнительной большой камерой расширенными функциями моторизованного манипулятора, с быстрым и простым получением чистого высокого вакуума в камере и предназначенный для широкого диапазона технических приложений при исследованиях проводящих материалов.

VEGA XMU
Модель с переменным изменением давления, дополняющая все преимущества вакуумной модели, позволяя проводить исследование непроводящих экземпляров в их естественном состоянии с расширенными возможностями при низком вакууме.

Подробнее >>>