Инструменты для НаноТехнологий
 
 

Оборудование для наноисследований

    Приборы электронной  микроскопии
    Приборы рентгеновской микроскопии
    Сканирующая зондовая микроскопия
    Аналитическое оборудование для микро и наноисследований
    Учебно-лабораторное оборудование
    Аксессуары TEM, SEM, STM, X-Ray

Производители нанооборудования

  NT-MDT
  Tescan
 

Растровые электронные микроскопы (SEM, FE SEM, FIB SEM)

Инструментальные средства поддержки

Программное сопровождение 

    FEI Company
    ИРО
 

Контактная информация

    О компании
    Заказ оборудования
    Наш адрес
    Ссылки
 

ПРОГРАММНЫЕ СРЕДСТВА КОМПАНИИ

Автоматические операции программы управления VEGA TC:
-   Управление вакуумом
-   Контроль нагрева катода
-   Юстировка пушки
-   Компенсация в зависимости от высокого напряжения
-   Оптимизация тока зонда для указанного размера зонда
-   Оптимизация размера зонда для указанного увеличения
-   Оптимизация скорости сканирования (в соответствие с отношением сигнал / шум)
-   Контраст и Яркость
-   Фокус и Коррекция астигматизма
-   Таблица цветов

Стандартные программные модули (входят в базовый пакет программы):
-   Измерения
-   Операции с изображениями
-   Обработка Изображений
-   3D сканирование (получение и сохранение объемных стереоскопических изображений)
-   Измерение твердости по отпечатку (по Викерсу и Бринеллю)
-   Калибровка маркера для серии изображений
-   Подсчет площади объектов
-   Программа выбора текущего увеличения микроскопа для печати изображений с задан-
ным размером и увеличением
-   Таймер автоматического завершения работы
-   Измерение допусков
-   Архивирование изображений и др.

Обработка изображений:

Автоконтраст, функции гистограммы,
Сглаживание и Увеличение четкости,

Адаптивные фильтры, Коррекции тени, Дифференциальный контраст, Быстрое Фурье- преобразование и др. функции.

 

Измерение изображений и вычисление площади объектов:

 
Расстояния, длины, круги, эллипсы, квадраты и поля неправильной формы.
Калибровка размера точки.
Экспорт данных измерений для статистической обработки.
Установление порогов по серому клину или на основе цветовых данных – окрашивание и измерение выделенных объектов.

Архивирование изображений:

 
Альбом для просмотра и сохранения изображений.
База данных для поиска среди сохраненных изображений.
Генератор отчетов и возможность прямой печати из программы.

Дополнительное программное обеспечение (не входит в стандартный комплект):

  • Оцифровка изображений
  • Морфология
  • Анализ Частиц
  • Сшивка изображений большой площади с высоким разрешением
  • Создание  видеоролика  из серии  изображений, снятых во времени
  •  MouseLink – программа управления компьютером  микроскопа  и  компьютером  системы микроанализа от одной мышки и клавиатуры
 

Галерея сканов
компании TESCAN

Aluminum Dot Map

Polysilicon sample - EBSD image quality map

EBSD pattern - silicon, tantalum and magnesium aluminium silicate
Aluminum line scan
Combined ED/WD spectrum

Cell in the bright field

Cell in the dark field

Leaf of nettle with beetle - uncoated sample

Trichome on stigma - uncoated sample

 
 

ЗАКАЗ ОБОРУДОВАНИЯ НАШ АДРЕС
 
 
Copyright © 2008-2010 Nanolabs Ltd

Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40,
тел./факс 8 (727) 250-90-06 (многоканальный), E-mail: nanolabs@narod.ru

 
 
Сайт создан в системе uCoz