Оборудование для наноисследований
Производители нанооборудования
Растровые электронные микроскопы (SEM, FE SEM, FIB SEM)
Инструментальные средства поддержки
Программное сопровождение
Контактная информация
Cell in the dark field
Галерея сканов компании TESCAN
Aluminum Dot Map
Polysilicon sample - EBSD image quality map
Cell in the bright field
Leaf of nettle with beetle - uncoated sample
Trichome on stigma - uncoated sample
Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40, тел./факс 8 (727) 250-90-06 (многоканальный), E-mail: nanolabs@narod.ru