Инструменты для НаноТехнологий
 
 
 

 

Оборудование для наноисследований

    Приборы электронной  микроскопии
    Приборы рентгеновской микроскопии
    Сканирующая зондовая микроскопия
    Аналитическое оборудование для микро и наноисследований
    Учебно-лабораторное оборудование
    Аксессуары TEM, SEM, STM, X-Ray

Производители нанооборудования

  NT-MDT
  Tescan
 

Растровые электронные микроскопы (SEM, FE SEM, FIB SEM)

Инструментальные средства поддержки

Программное сопровождение 

    FEI Company
    ИРО
 

Контактная информация

    О компании
    Заказ оборудования
    Наш адрес
    Ссылки
 

Cell in the dark field

<<<Назад
 

Галерея сканов
компании TESCAN

Aluminum Dot Map

Polysilicon sample - EBSD image quality map

EBSD pattern - silicon, tantalum and magnesium aluminium silicate
Aluminum line scan
Combined ED/WD spectrum

Cell in the bright field

Cell in the dark field

Leaf of nettle with beetle - uncoated sample

Trichome on stigma - uncoated sample

 
 

ЗАКАЗ ОБОРУДОВАНИЯ НАШ АДРЕС
 
 
Copyright © 2008-2010 Nanolabs Ltd

Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40,
тел./факс 8 (727) 250-90-06 (многоканальный), E-mail: nanolabs@narod.ru

 
 
Сайт создан в системе uCoz