Оборудование для наноисследований
Производители нанооборудования
Растровые электронные микроскопы (SEM, FE SEM, FIB SEM)
Инструментальные средства поддержки
Программное сопровождение
Контактная информация
Галерея сканов компании TESCAN
Aluminum Dot Map
Polysilicon sample - EBSD image quality map
Cell in the bright field
Leaf of nettle with beetle - uncoated sample
Trichome on stigma - uncoated sample
Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40, тел./факс 8 (727) 250-90-06 (многоканальный), E-mail: nanolabs@narod.ru