ЗОНДОВЫЕ НАНОЛАБОРАТОРИИ |
|
| Зондовая Нанолаборатория на платформе ИНТЕГРА (производитель NT-MDT) | |
|
|
 |
Базовая модель. Предоставляя возможности для изучения физических свойств поверхности с использованием практически любых применяемых сегодня методов Сканирующей Зондовой Микроскопии на атомно-молекулярном уровне, одновременно является основой для формирования других, более специализированных комплексов. |
 |
СЗМ для работы в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Специализация – измерение слабых сил (электрических, магнитных, адгезионных и т.п.). |
| ИНТЕГРА Терма | |
 |
СЗМ с беспрецедентно низким уровнем температурных дрейфов (менее 10 нм/оС). Позволяет на сверхмалых полях (<100нм) проводить прецизионные манипуляции и осуществлять долговременные измерения единичных нанообъектов. Обеспечивает уникально высокую стабильность при измерениях в условиях меняющейся температуры.Наличие Макроязыка Nova PowerScript для автоматизированного управления комплексом позволяет проводить уникальные эксперименты. |
| ИНТЕГРА Соларис | |
 |
Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (СБОМ). Специализация – исследование оптических свойств за пределом дифракции видимого света (разрешение до 30 нм). |
 |
Интеграция СЗМ с конфокальной микроскопией/спектроскопией комбинационного рассеяния (КР). Благодаря эффекту гигантского усиления КР позволяет проводить КР спектроскопию и получать изображения с разрешением в плоскости до 50 нм. |
| ИНТЕГРА Вита | |
 |
Интеграция СЗМ с дальнепольным оптическим (инвертированным) микроскопом. Специализация – исследования объектов молекулярной и клеточной биологии в условиях близких к физиологическим. |
| ИНТЕГРА Томо | |
 |
Интеграция СЗМ и ультрамикротома. Позволяет получать послойные изображения образца и реконструировать трехмерную модель наноразмерных включений. Может дополнять данные ПЭМ, полученные на срезах того же образца. |
 |
СЗМ для исследования больших (до 100 мм) образцов. Позволяет проводить серийные измерения в полуавтоматическом режиме. |
Сканирующая Зондовая Микроскопия предоставляет возможность исследовать пространственные, физические и химические свойства объектов с характерными размерами меньше нескольких нанометров. Благодаря своей многофункциональности, простоте и доступности, сегодня Атомно-Силовой Микроскоп (АСМ) стал едва ли не самым распространенным «инструментом нанотехнологий». Платформа ИНТЕГРАспециально разработана как основа для развития возможностей Сканирующей Зондовой Микроскопии и объединение их с другими современными методами исследований. Объединение АСМ с другими методами дало возможность, например, преодолеть принципиальные ограничения оптики, с возможностью проводить спектральные исследования (включая определение химического состава) с разрешением, превосходящим лучшие оптические методы. Модельный ряд включает приборы для проведения зондово-микроскопических исследований в обычных и в специальных условиях - в вакууме, при высокой и низкой температуре, в жидкостях и т.д. Вместе с тем, благодаря проведению разработки Зондовой НаноЛаборатории на основе концепции единой платформы ИНТЕГРА, даже при наличии одного специализированного СЗМ комплекса на его основе может быть сформирована полноценная многофункциональная исследовательская лаборатория. |
|
 |
|
| ЗАКАЗ ОБОРУДОВАНИЯ | НАШ АДРЕС |
Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40, |
