СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ МИКРОСКОПЫ |
|
| Сканирующие зондовые микроскопы на платформе СОЛВЕР (производитель NT-MDT) | |
Платформа Солвер сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ) предназначена для исследования свойств поверхности в масштабе нанометров. Позволяет визуализировать и количественно измерять механические (твердость, упругость, вязкость и т.д.), электрические (проводимость, емкость, распределение поверхностного заряда и т.д.) и магнитные свойства объектов с размерами от нескольких микрон до ангстрем. В арсенале Солвер более 40 измерительных методик, которые можно использовать для исследований как на воздухе, так и в контролируемой атмосфере, а также жидкости. |
|
| СОЛВЕР НЕКСТ | |
 |
Новейшая разработка НТ-МДТ – Сканирующий Зондовый Микроскоп последнего поколения Солверов. Уникальность этой системы заключается в том, что функциональность и высочайшее качество получаемых изображений сочетается с предельной простотой в использовании, которая достигается за счет полной автоматизации настроек и управления. |
| СМЕНА | |
 |
Компактный портативный Сканирующий Зондовый Микроскоп для исследования объектов неограниченного размеры (Stand Alone). За счет управления от портативного компьютера может быть использован для проведения исследований даже за пределами научной лаборатории. |
 |
Простой и надежный Сканирующий Зондовый Микроскоп для постоянной работы в университете или исследовательской лаборатории. Прибор предоставляет возможности для исследования различных объектов на воздухе, в контролируемой атмосфере и жидкостях с высочайшим разрешением (вплоть до атомарного). |
 |
Простой и надежный Сканирующий Зондовый Микроскоп для постоянной работы в университете или исследовательской лаборатории. Позволяет исследовать большие образцы до 100х100х20мм за счет использования схемы сканирования кантилевером. Измерительная головка может быть использована как выносное измерительное устройство (Stand Alone) для исследования образцов неограниченного размера. |
|
|
 |
Профессиональный Сканирующий Зондовый Микроскоп с широкими функциональными и измерительными возможностями. Модульный принцип конструкции обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор для определённых применений и конкретных методик исследования. Новый мощный контроллер, встроенные емкостные датчики и 1 мкм оптика обеспечивают новый уровень СЗМ исследований. |
 |
Специализированный Сканирующий Зондовый Микроскоп для работы в высоком вакууме (до 10-6 торр) и контролируемой атмосфере. Возможна конфигурация с охлаждением образца до 500К и нагреванием до 1500С . |
 |
|
 |
|
| ЗАКАЗ ОБОРУДОВАНИЯ | НАШ АДРЕС |
Республика Казахстан, 050008, г. Алматы, ул. Байзакова, 222, оф. 40, |
